SKC-52EH型嵌入式实验开发系统单片机实验箱
嵌入式实验开发系统是针对C8051F 单片机（SOC）而开发的。C8051F单片机完全兼容MCS-51指令系统，利用此平台，不仅可以开展传统的MCS-51单片机教学，如指令系统、中断系统、I/0口接口实验、外围逻辑和通信实验，也可以讲授片上系统（SOC）的概念、体系结构、设计方法、系统应用。该实验系统实现了C8051F 单片机片上的全部资源，并集成了USB 主从通信，TCP/IP以太网通信，UCOS-II 嵌入式系统移植源码。我们编写了所有功能和模块的测试程序，提供了大量的实例，使学生在学会C8051F系列片上系统单片机开发方法的同时，感受到片上系统单片机在设计方法上的革新和解决的高效。
一、实验系统组成:
1.CPU板：CPU核心模块采用C8051F020芯片，该芯片是C8051F系列单片机中功能最为其全的一款；集成开发环境支持Silicon Labs IDE和KEIL C软件。
2.片 内：64K FLASH，4K XRAM
片外扩展：256K FLASH，32K XRAM
3.CPU板C8051F020芯片I/0引脚全部引出，可以和用户外部电路连接；
4.实验系统带有JTAG接口，并配有USB高速通讯专业仿真器，通过4脚的JTAG接口可以进行非侵入式、全速的在线系统调试、仿真；
5.4*4阵列式键盘；
6.8位逻辑电平开关输出、8位LED逻辑电平显示；
7.6位动态八段LED数码管；
8.2路单脉冲信号发生电路和1路8MHZ时钟发生电路；
9.时钟分频电路；
10.模拟量发生器电路和逻辑笔电路；
11.8*8LED点阵及驱动电路；
12.128*64 LCD液晶显示屏；
13.蜂鸣器电路；
14.直流电机测速电路；
15.四相步进电机及驱动电路；
16.继电器电路及接口；
17.双通道RS-232 接口；
18.SPI接口，LED 数码管显示；
19.IIC 接口，接24C01 串行EEPROM；
20.IIC 接口，PCF8563日历时钟；
21.8 路12 位AD，2 路12 位DA 接口；
22.D12 USB 从机通信；
23.SL811 USB 主机通信；
24.TL8019 10M 以太网通信；
二、C8051F020单片机主要特点：
1、模拟外设:
(1)逐次逼近型(SAR)12位 ADC(ADC0)
A.可编程转换速率，最大100ksps
B.可多达8个外部输入；可编程为单端输入或差分输入
C.可编程放大器增益：16、8、4、2、1、0.5
D.数据相关窗口中断发生器
E.内置温度传感器（±3°C）
(2)8位ADC(ADC1)
A可编程转换速率，最大500ksps
B.8个外部输入
C.可编程放大器增益：4、2、1、0.5
(3)两个12位DAC
A.可以同步输出，用于产生无抖动波形
(4)两个模拟比较器
A.16个可编程回差电压值
B.可用于产生中断或复位
(5)电压基准
A.内部基准（2.4V）
(6)精确的VDD监视器和欠压检测器
A.可通过MONEN引脚允许或禁止。
2、片内JTAG调试和边界扫描
（1）片内调试电路提供全速、非侵入式的在系统调试
（2）支持断点、单步、观察点、堆栈监视器；可以观察/修改存储器和寄存器
（3）符合IEEE1149.1边界扫描标准
3、高速8051微控制器内核
（1）流水线指令结构；70%的指令的执行时间为一个或两个系统时钟周期
（2）速度可达25MIPS（时钟频率为25MHz 时）
（3）22个矢量中断源
4、存储器
（1）4352字节内部数据RAM（4K + 256）
（2）64K字节FLASH 存储器；可以在系统编程，扇区大小为512 字节
（3）外部64K 字节数据存储器接口（可编程为复用方式或非复用方式）
5、数字外设
（1）8个字节宽的端口I/O（C8051F020）所有口线均耐5V 电压
（2）可同时使用的硬件SMBus(I2CTM 兼容)、SPITM及两个UART 串口
（3）可编程的16位计数器/定时器阵列，有5个捕捉/比较模块
（4）5个通用16位计数器/定时器
（5）专用的看门狗（WDT）定时器；
6、时钟源
（1）内部可编程振荡器：2-16MHz
（2）外部振荡器：晶体、RC、C、或外部时钟
（3）实时时钟(RTC)方式（用定时器3 或PCA）；
7、供电电压（2.7V - 3.6V）
（1）典型工作电流：10mA @ 20MHz
（2）多种节电休眠和停机方式
三、实验项目：
第一部分：C8051F020CPU内部功能试验
(1)程序看门狗(WDT)实验；
(2)计数器实验；
(3)定时器实验；
(4)数字I/O端口实验；
(5)内部数字功能模块实验；
(6)内部时钟选择实验；
(7)外部时钟选择实验；
(8)可编程计数器/定时器实验；
(9)片内的外扩数据存储器实验；
(10)模数转换（ADC）实验；
(11)数模转换（DAC）实验；
(12)电压比较器实验；
(13)中断控制实验；
(14)温度传感器实验
(15)UCOS-II嵌入式系统移植；
第一部分：C8051F020CPU外部硬件试验
(1) P1口亮灯实验
(2) P1口转弯灯实验
(3) P3.3口输入，P1口输出
(4) 继电器控制实验
(5) 小直流电机测速实验
(6) 四相步进电机控制实验
(7) 4*4键盘显示实验；
(8) 6位动态LED数码管显示实验
(9) 8*8 LED点阵显示实验
(10) 128*64 LCD液晶显示实验
(11) Flash ROM 外部程序存储器实验
(12) SRAM外部数据存储器实验
(13) RS3232串口通讯实验
(14) SPI 总线接口实验
(15) IIC 接口，AT24C02读写实验
(16) IIC接口，PCF8563日历时钟实验
(17) D12 USB 从机通信实验
(18) SL811 USB 主机通信实验
(19) RTL8019 10M 以太网通信实验
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